特許

J-GLOBAL ID：200903085550327172

金属製架空線の腐食診断方法および装置

発明者： 吉田 浩隆 ,  祖父江 健一 ,  本庄 克彦 ,  竹越 良治
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 高山 敏夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-124295
公開番号（公開出願番号）：特開平5-296943
出願日： 1992年04月17日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：

【要約】【目的】 架空線の腐食進行状況を線径減少率及び2値変動率の2つのパラメータで定量化することにより、点検者の経験に依存しない腐食診断を可能とすること。【構成】 棹8の先端に取り付けた撮像機6を用い、金属製架空線1のバックに輝度値が既知の背景板30を配置し、架空線を撮像し、得られた架空線の撮像画像から線径の減少する割合と、明るさのばらつきを算出し、架空線の腐食の程度を判断する架空線の腐食の診断方法と装置。

請求項（抜粋）：

撮像機により撮像した金属製架空線の画像を用い、?@画像中の各画素ごとの受光強度、すなわち輝度値を求め、輝度値の違いから架空線領域とその他の背景にあたる領域を区別して架空線領域、すなわち架空線領域画像のみを抽出し、?A前記の架空線領域画像について、線径方向の画素数Dを数え、その値と予め記憶している健全な架空線の線径値D0 から次式により線径減少率δを求め、δ=(D0 -D)/D0?B前記の架空線領域画像の各輝度値の出現する頻度の統計分布、すなわちヒストグラムを求め、このヒストグラムの中で出現頻度の局所的最大値を与える2つの輝度値を見つけ、つぎに、これら2つの極大値の間でヒストグラムの極小を与えるような輝度値、すなわち基準値を求め、?C前記の架空線領域画像の各画素ごとの輝度値が、基準値以上のとき1、基準値未満のとき0、の値を持つような2値化した画像、すなわち2値画像をつくり、この画像に対して縦方向あるいは横方向に走査した時の0、1変化の回数を数え、その値を全走査画素数で除した値、すなわち2値変動率を求め、?D前記の線径減少率と前記の2値変動率から架空線の腐食の程度を定量化し、これによって金属製架空線の腐食の程度を診断することを特徴とする金属製架空線の腐食診断方法。

IPC (2件)：

G01N 21/89 ,  H02G 1/02