特許

J-GLOBAL ID：200903085623516041

歪計測装置

発明者： 山浦 剛俊 ,  開 登喜雄
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外5名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-287873
公開番号（公開出願番号）：特開2000-121397
出願日： 1998年10月09日
公開日（公表日）： 2000年04月28日
要約：

【要約】【課題】光ファイバの布設及び撤去を容易に行なえる歪計測装置を提供すること。【解決手段】光ファイバを測定対象(2)に設け、前記光ファイバの歪量を計測することで前記測定対象(2)に生じた歪を検出する歪計測装置であり、内部に光ファイバを有し、前記測定対象(2)に設けられたダクト3内に挿通される光ファイバケーブル1と、前記光ファイバケーブル1の外周面及び前記ダクト3の内周面の一方に、所定間隔毎に設けられた複数の電磁石と、前記光ファイバケーブル1の外周面及び前記ダクト3の内周面の他方に、前記所定間隔毎に設けられた複数の磁性を有する部材(4)と、を備え、前記光ファイバケーブル1を前記ダクト3内に挿通した後、前記各電磁石を対向する前記各磁性を有する部材(4)に吸着させることで前記光ファイバを前記ダクト3内に固定する。

請求項（抜粋）：

光ファイバを測定対象に設け、前記光ファイバの歪量を計測することで前記測定対象に生じた歪を検出する歪計測装置であり、内部に光ファイバを有し、前記測定対象に設けられたダクト内に挿通される光ファイバケーブルと、前記光ファイバケーブルの外周面及び前記ダクトの内周面の一方に、所定間隔毎に設けられた複数の電磁石と、前記光ファイバケーブルの外周面及び前記ダクトの内周面の他方に、前記所定間隔毎に設けられた複数の磁性を有する部材と、を備え、前記光ファイバケーブルを前記ダクト内に挿通した後、前記各電磁石を対向する前記各磁性を有する部材に吸着させることで前記光ファイバを前記ダクト内に固定することを特徴とする歪計測装置。

IPC (6件)：

G01D 21/00 ,  G01B 11/16 ,  G01C 7/06 ,  G02B 6/00 ,  H01F 7/06 ,  E21F 17/00

FI (7件)：

G01D 21/00 D ,  G01D 21/00 G ,  G01B 11/16 Z ,  G01C 7/06 ,  H01F 7/06 J ,  E21F 17/00 ,  G02B 6/00 B

Fターム (17件)：

2F065AA06 ,  2F065AA65 ,  2F065AA69 ,  2F065CC40 ,  2F065FF12 ,  2F065FF42 ,  2F065PP01 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ44 ,  2F065UU03 ,  2F076BA01 ,  2F076BB09 ,  2F076BD06 ,  2F076BD17 ,  2H038AA05 ,  5E048AB10 ,  5E048CB07