特許

J-GLOBAL ID：200903085625592063

金属薄膜つきプリズム及びそれを用いた分光分析装置

発明者： 吉松 伸起
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (3件)： 山下 穣平 ,  志村 博 ,  永井 道雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-265219
公開番号（公開出願番号）：特開2007-078451
出願日： 2005年09月13日
公開日（公表日）： 2007年03月29日
要約：

【課題】 マイクロメートルオーダーで平坦な表面を有し且つ表面プラズモン共鳴現象を利用した分光分析に好適な金属薄膜を備えたプリズムを提供する。【解決手段】 直角二等辺三角形プリズム本体21の斜面21aに透光性ガラス基板22が配置されており、透光性ガラス基板22上に111方位の金または銀の単結晶からなる金属薄膜23-1,23-2,23-3が付されている。金属薄膜23-1,23-2,23-3は、厚さが15〜300nmであり且つプリズム本体斜面21aから遠い方の表面の平均粗さが0.2nm以下である。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

プリズム本体のプリズム面に金または銀の単結晶からなる金属薄膜が付されており、該金属薄膜は厚さが15〜300nmであり且つ前記プリズム面から遠い方の表面の平均粗さが0.2nm以下であることを特徴とする金属薄膜つきプリズム。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01N 13/14

FI (2件)：

G01N21/27 C ,  G01N13/14 A

Fターム (5件)：

2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12

引用特許：

出願人引用 (5件)

• 特許第3579321号公報
  
• 光学素子およびそれを用いた光ヘッド
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-088434   出願人：日本電気株式会社
• 特許第3140221号公報
  
• 特許第3192472号公報
  
• 特許第2951133号公報