特許
J-GLOBAL ID:200903085641072789

X線検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉本 修司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-142674
公開番号(公開出願番号):特開平8-313642
出願日: 1995年05月16日
公開日(公表日): 1996年11月29日
要約:
【要約】【目的】 試料4中の検出対象物質をX線分析する時、妨害線の発生を簡単かつ確実に阻止して、分析精度を高め得るX線検出装置を提供する。【構成】 X線検出器7が収容される容器6側に窓材62を取付けるための取付リング8を、試料4の検出対象物質を含まない材料で形成する。また、X線検出器7におけるケース72の頭部73側で入射X線の当たる部分を、検出対象物質を含まない材料で形成する。
請求項(抜粋):
物質の特性X線を検出するX線検出装置であって、検出対象物質の特性X線を入射させる窓に窓材が設けられた容器と、この容器内に収容されて上記窓から入射した特性X線を検出するX線検出器とを有し、上記窓材の周縁部を容器に取付ける取付リングが、上記検出対象物質を含まない材料で形成されているX線検出装置。
IPC (4件):
G01T 7/00 ,  G01N 23/223 ,  G01T 1/24 ,  G21K 3/00
FI (4件):
G01T 7/00 A ,  G01N 23/223 ,  G01T 1/24 ,  G21K 3/00 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-372845
  • 特開平3-054440
  • 特開平3-142346
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