特許
J-GLOBAL ID：200903085652357106
イオン性検体のスポットテスト法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 曉司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-048632
公開番号（公開出願番号）：特開平7-260693
出願日： 1994年03月18日
公開日（公表日）： 1995年10月13日
要約：
【要約】【目的】 イオン性検体のスポットテスト法において、操作が簡易で高感度に検体を検出する方法を提供する。【構成】 イオン性検体と錯体を形成する呈色剤をイオン性検体を含有すると思われる試料液に添加し、次いで当該試料液を疎水性担体上に滴下し、蒸発、濃縮した後、試料液滴下箇所の錯体の発色を測定することにより試料液中のイオン性検体を検出する。【効果】 従来のスポットテスト法に較べ、スポットサイズが小さく制御されることから、試料中の検体が高感度で測定することが可能となり、ミクロ試料の高感度簡易測定法として使用できる。
請求項（抜粋）：
イオン性検体と錯体を形成し得る呈色剤をイオン性検体を含有すると思われる試料液に添加し、次いで当該試料液を疎水担体上に滴下し、蒸発、濃縮した後、試料滴下箇所の錯体の発色を測定することを特徴とするイオン性検体のスポットテスト法。
IPC (2件)：
G01N 21/78
, G01N 31/22 121
