特許
J-GLOBAL ID:200903085721080235
ビームプロファイル測定装置及びレーザ加工装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
酒井 宏明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-317718
公開番号(公開出願番号):特開2008-128987
出願日: 2006年11月24日
公開日(公表日): 2008年06月05日
要約:
【課題】簡単かつ安価な構成でトップハット形状のビームプロファイルに高いピークの発生有無をモニターできるレーザビームのプロファイル測定装置を得ること。【解決手段】レーザ発振器1から射出されたレーザビームの強度分布をトップハット形状に整形するトップハット光学系2と、トップハット光学系2を通過したレーザビームの光路上に配置され、前記トップハット形状上に発生する高ピーク領域のレーザビームを透過する位置に円弧状の開口部が設けられているアパーチャ13と、アパーチャ13を通過したレーザビームの強度を測定して判断する測定手段である光電素子14及び制御装置15とを備えている。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
強度分布がトップハット形状をしたレーザビームの光路上に配置され、前記トップハット形状上に発生する高ピーク領域のレーザビームを透過する位置に円弧状の開口部が設けられているアパーチャと、
前記アパーチャを通過したレーザビームの強度を測定して一定値を超える強度の存在有無を判断する第1の測定手段と
を備えていることを特徴とするビームプロファイル測定装置。
IPC (6件):
G01J 1/02
, B23K 26/073
, B23K 26/08
, B23K 26/067
, G01B 11/24
, H01S 3/00
FI (7件):
G01J1/02 L
, B23K26/073
, B23K26/08 B
, B23K26/067
, G01B11/24 K
, H01S3/00 B
, H01S3/00 F
Fターム (32件):
2F065AA52
, 2F065FF02
, 2F065GG04
, 2F065HH13
, 2F065HH15
, 2F065JJ09
, 2F065JJ18
, 2F065LL00
, 2F065LL28
, 2F065LL30
, 2F065NN17
, 2F065NN20
, 2F065SS09
, 2G065AA04
, 2G065AA11
, 2G065AB05
, 2G065AB14
, 2G065AB30
, 2G065BA09
, 2G065BB07
, 2G065BB11
, 2G065DA20
, 4E068AF00
, 4E068CD03
, 4E068CD05
, 4E068CD11
, 4E068CE02
, 5F172NN23
, 5F172NP03
, 5F172NP18
, 5F172NR11
, 5F172ZZ01
引用特許:
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