特許
J-GLOBAL ID：200903085786040770
光パルス試験器
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 暁秀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-041177
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229820
出願日： 1996年02月28日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：
【要約】【課題】 安価で、信頼性の高い、被試験光ファイバの損失分布、接続損失、歪分布、温度分布等の測定が可能な光パルス試験器を提供する。【解決手段】 1つの狭線幅光源を持つ信号光発生手段、偏波制御器と外部位相変調器と変調信号光の周波数モニターと該変調信号光のモニターからの信号に基づいて偏波制御器及び外部位相変調器の駆動回路を制御する制御器とを具えた光周波数制御手段、光パルス生成手段、光電気変換手段、電気信号処理手段、及び、スペクトル波形を表示する表示手段を具備する。
請求項（抜粋）：
1つの狭線幅光源から出力光を分岐して試験信号光及びローカル信号光を発生させる信号光発生手段、偏波制御器と外部位相変調器と変調信号光の周波数モニターと該変調信号光のモニターからの信号に基づいて偏波制御器及び外部位相変調器の駆動回路を制御する制御器とを具え前記試験信号光とローカル信号光との光周波数差を制御する光周波数制御手段、前記試験信号光をパルス化して試験信号光パルスを生成すると共に前記試験信号光パルスを被試験光ファイバに送出する光パルス生成手段、被試験光ファイバからの反射光及び後方散乱光と前記ローカル信号光とを光学的に合波して得られるビート信号光を受光して電気信号に変換する光電気変換手段、該電気信号の加算処理等を行う電気信号処理手段、及び、前記試験信号光とローカル信号光との周波数差を制御して得られる複数の前記反射光及び後方散乱光の波形から被試験光ファイバの任意の位置の前記複数の周波数差に対するスペクトル波形を表示する表示手段を具備することを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/02 J
, G01M 11/00 R
