特許
J-GLOBAL ID：200903085850132217
積層電子部品の積層ずれ検出用チェックマーク
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
加藤 恭介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-024955
公開番号（公開出願番号）：特開平6-224002
出願日： 1993年01月21日
公開日（公表日）： 1994年08月12日
要約：
【要約】【目 的】 積層コンデンサの一方向からの検査によって積層ずれの長さ方向および/または幅方向が同時に検査できる。【構 成】 基板の余白部に設けられている切断予定仮想線上には、斜辺を一定間隔で対向して保持した一対の直角三角形からなるチェックマークが備えられている。積層基板を重ねて切断した場合に、前記チェックマークが側面に現れる。側面に現れたチェックマークを見ることによって、積層基板の幅方向、長さ方向のずれを検出することができる。
請求項（抜粋）：
導電性部材が形成されている基板を積層して接着した後、切断予定仮想線に沿って所定形状に切断することにより、単体の電子部品が得られる積層電子部品において、上記基板の余白部に設けられている切断予定仮想線上には、斜辺を一定間隔で対向して保持した一対の直角三角形からなるチェックマークを備えていることを特徴とする積層電子部品の積層ずれ検出用チェックマーク。
IPC (5件)：
H01C 1/04
, H01F 5/00
, H01F 17/00
, H01G 13/00 391
, H01G 1/04
