特許
J-GLOBAL ID：200903085852223120
クライオスタットミクロトーム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-218099
公開番号（公開出願番号）：特開平9-043114
出願日： 1996年08月01日
公開日（公表日）： 1997年02月14日
要約：
【要約】【課題】 標本の大きさ及び形状とは無関係に自動的に且つ信頼性をもって切り取り位置を見出すクライオスタットミクロトームを提供する。【解決手段】 ミクロトームカッタ(9)と標本(10)との間に、数ボルトの電圧が印加し、標本(10)とミクロトームカッタ(9)とが機械的に接触したときに、標本(10)の固有導電性があることにより発生するわずかな電流と、その結果として起こる標本(10)におけるわずかな電圧降下を測定して、その出力があらかじめ規定された閾値電圧を越えたときに、標本(10)とミクロトームカッタ(9)との送り運動を自動的に停止させる。
請求項（抜粋）：
凍結した標本(10)を切り取るクライオスタットミクロトームにおいて、ミクロトームカッタ(9)と標本(10)との互いに向き合う方向への送り運動をミクロトームカッタ(9)と標本(10)とが機械的に接触したときに自動的に停止させる制御回路(6,37,38)を有し、それが、カッタ(9)と標本(10)との間に電圧を印加しておき、標本(10)が固有導電率をもつことによってミクロトームカッタ(9)と標本(10)が機械的に接触したときに標本で起こる電圧降下の変化又は標本(10)を通過する電流を検出する電子回路(6,23,28)を送り運動を停止させるために備えているクライオスタットミクロトーム。
FI (3件)：
G01N 1/06 B
, G01N 1/06 E
, G01N 1/06 J
