特許
J-GLOBAL ID：200903085910029704
近赤外線分析方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-110319
公開番号（公開出願番号）：特開平5-302890
出願日： 1992年04月28日
公開日（公表日）： 1993年11月16日
要約：
【要約】【目的】 近赤外線を試料に照射して予め作成された検量線から未知試料の化学成分や物理特性値を推定する場合の試料の水分値による変動の影響を見る。【構成】 予め試料の近赤外線スペクトルの水分変化特性を記憶する手段を設け、作成した検量線に用いられた各波長の水分特性値により求める化学成分値の水分変化による特性値の差を求め、この特性値差と予め設定する評価基準値とを比較することによって水分変化に対する精度評価を行う。
請求項（抜粋）：
近赤外線を試料に照射し、その試料の化学成分値や物理特性値と照射した光の反射あるいは透過光量との相関により検量線を作成し、それによって未知試料の化学成分や物理特性値を推定するものにおいて、予めその試料の近赤スペクトルの水分変化特性を記憶する手段を設け、作成した検量線に用いられた各波長の水分特性値より求める化学成分値や物理特性値の水分変化による変動量を推定する近赤外分析方法。
IPC (2件)：
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