特許

J-GLOBAL ID：200903085946400093

静電潜像現像方法

発明者： 山口 公利 ,  増田 稔 ,  望月 賢 ,  中井 洋志 ,  八木 慎一郎 ,  小番 昭宏
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 池浦 敏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-031479
公開番号（公開出願番号）：特開2002-236397
出願日： 2001年02月07日
公開日（公表日）： 2002年08月23日
要約：

【要約】【課題】 高画質の画像を得ることができ、高耐久性の静電潜像現像方法を提供すること。【解決手段】 0.8≦(Vr/Vp)≦1.3であり、キャリアの重量平均粒径が25〜45μmであって、44μmよりも小さい粒径を有する粒子が重量基準で70%以上、22μmより小さい粒径を有する粒子が7%以下であり、かつ、1≦(Dv/Dp)≦1.30である樹脂で被覆されたキャリアを用いることを特徴とする静電潜像現像方法(ただし、Vr[mm/sec]は、現像スリーブの線速度を、Vp[mm/sec]は、感光体の線速度を、Dv[μm]は、重量平均粒径を、Dp[μm]は、個数平均粒径を表す)。

請求項（抜粋）：

0.8≦(Vr/Vp)≦1.3であり、キャリアの重量平均粒径が25〜45μmであって、44μmよりも小さい粒径を有する粒子が重量基準で70%以上、22μmより小さい粒径を有する粒子が7%以下であり、かつ、1≦(Dv/Dp)≦1.30である樹脂で被覆されたキャリアを用いることを特徴とする静電潜像現像方法(ただし、Vr[mm/sec]は、現像スリーブの線速度を、Vp[mm/sec]は、感光体の線速度を、Dv[μm]は、重量平均粒径を、Dp[μm]は、個数平均粒径を表す)。

IPC (5件)：

G03G 9/113 ,  G03G 5/04 ,  G03G 9/08 ,  G03G 13/08 ,  G03G 15/00 303

FI (5件)：

G03G 5/04 ,  G03G 9/08 ,  G03G 15/00 303 ,  G03G 9/10 351 ,  G03G 13/08

Fターム (20件)：

2H005BA02 ,  2H005BA06 ,  2H005EA01 ,  2H005EA02 ,  2H005EA05 ,  2H027EA05 ,  2H027ED02 ,  2H027ED08 ,  2H027EE03 ,  2H027EF09 ,  2H068AA00 ,  2H068AA08 ,  2H068AA28 ,  2H068AA48 ,  2H077AD02 ,  2H077AD06 ,  2H077AD36 ,  2H077DB08 ,  2H077EA03 ,  2H077GA03