特許
J-GLOBAL ID：200903085978975616
質量分析計用イオン源
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-007341
公開番号（公開出願番号）：特開平6-213870
出願日： 1993年01月20日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：
【要約】【目的】CFFのコンタミネーションを防止し、かつ長時間安定な動作と液体クロマトグラムから溶出される無極性から高極性物質の高感度測定を可能とすること。【構成】液体クロマトグラム9より流出された試料とマトリックスはスプリッター16でスプリットされ多孔性イオン化台7へ到達し、一次イオンビーム発生器5から照射される一次イオンビーム6によってイオン化し質量分析系1にて質量分散を受ける。この時発生した多孔性イオン化台7上のコンタミネーションは不活性ガス12から供給されヒータ13で温められた溶媒により洗浄される。
請求項（抜粋）：
フリットファブLC/MSイオン源において、移動相溶媒経路または直接多孔材部に、試料等によるコンタミを洗い流すための溶媒を流すことを特徴とした質量分析計用イオン源。
IPC (3件)：
G01N 27/62
, H01J 49/04
, H01J 49/14
