特許
J-GLOBAL ID：200903085992065959
サブマイクロ粒子表面における蛍光測定法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-281059
公開番号（公開出願番号）：特開2003-083893
出願日： 2001年09月17日
公開日（公表日）： 2003年03月19日
要約：
【要約】【課題】 簡便でありそして、検出精度が高いサブマイクロ粒子表面における蛍光測定法を提供すること。【解決手段】 蛍光物質を保持するサブマイクロ粒子懸濁液における蛍光測定に於いて、励起光波長と蛍光波長を励起光の散乱の影響ない距離を離れさす事により粒子表面の蛍光を検出することを特徴とするサブマイクロ粒子表面における蛍光測定法。
請求項（抜粋）：
蛍光物質を保持するサブマイクロ粒子懸濁液における蛍光測定に於いて、励起光波長と蛍光波長を励起光の散乱の影響ない距離を離れさす事により粒子表面の蛍光を検出することを特徴とするサブマイクロ粒子表面における蛍光測定法。
Fターム (9件)：
2G043AA01
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA02
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GB21
, 2G043JA04
, 2G043NA11
