特許
J-GLOBAL ID：200903086057419196
画像形成装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 淳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-299972
公開番号（公開出願番号）：特開平11-204890
出願日： 1998年10月21日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：
【要約】【課題】 半導体レーザ(LD)の正確な劣化状態を検出し、該劣化状態に応じた適正な制御を実施する。【解決手段】 LDの劣化が進行するにしたがい、光量値-駆動電流値特性における傾きが緩やかになってくる。そこで、検出光量値が5つの光量値の各々に等しくなるときの半導体レーザの駆動電流値を検出する。これにより、光量値-駆動電流値特性に関する5つの検出点A1、A2、A3、A4、A5を得る。そして、隣接する2つの検出点の区間での微分効率ηを算出する。例えば、検出点A1、A2より微分効率η1を、検出点A2、A3より微分効率η2を、それぞれ算出する。さらに、微分効率の値をディスプレイに表示することで、オペレータは、該微分効率の値よりLDの正確な劣化状態を認識することができる。
請求項（抜粋）：
所定の駆動電流が供給されることで該駆動電流に応じたレーザ光を射出するレーザ光射出部を備え、前記レーザ光射出部から射出される光を偏向走査し像担持体上に静電潜像を形成する光走査装置と、前記レーザ光射出部から射出される光量を検出する光量検出手段と、前記レーザ光射出部に各々大きさが異なる複数の駆動電流が供給された場合に前記光量検出手段により検出される各々大きさが異なる複数の光量値に基づいて、駆動電流及び光量値の一方の差分に対する他方の差分の比で表される微分効率、又は該微分効率の比を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された微分効率の値又は微分効率の比の値を報知する報知手段と、を有する画像形成装置。
IPC (2件)：
H01S 3/18 631
, B41J 2/44
H01S 3/18 631
, B41J 3/00 D
