特許
J-GLOBAL ID:200903086110856056
超音波探傷方法および超音波探傷装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
社本 一夫 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-030618
公開番号(公開出願番号):特開2003-232779
出願日: 2002年02月07日
公開日(公表日): 2003年08月22日
要約:
【要約】【課題】超音波探傷装置と解析機能とを一体構造にし、作業者の経験や主観に依存せず、客観的な理論解析結果を利用して、解析波形と測定波形とを直接比較できるようにすること。【解決手段】試験体の超音波探傷方法は、パルサ・レシーバ4、コンピュータ2、ディスプレー3、超音波探傷シミュレーション・ソフトウェア1の各構成要素を機能的に一体に組み込み、解析で求めた波形(イ)と測定で得られた波形(ロ)とを直接比較し、波形の有意な差にもとづいて試験体欠陥部に起因する信号を検出する。
請求項(抜粋):
試験体の超音波探傷方法において、パルサ・レシーバ、コンピュータ、ディスプレー、超音波探傷シミュレーション・ソフトウェアの各構成要素を機能的に一体に組み込むこと、解析で求めた波形(イ)と測定で得られた波形(ロ)とを直接比較すること、波形の有意な差にもとづいて試験体欠陥部に起因する信号を検出することからなる、超音波探傷方法。
IPC (3件):
G01N 29/04
, G01N 29/22 501
, G01N 29/22 502
FI (3件):
G01N 29/04
, G01N 29/22 501
, G01N 29/22 502
Fターム (12件):
2G047AA06
, 2G047AA09
, 2G047AB07
, 2G047BC07
, 2G047DA02
, 2G047DA03
, 2G047GF06
, 2G047GG09
, 2G047GG19
, 2G047GG27
, 2G047GG37
, 2G047GH01
引用特許:
審査官引用 (3件)
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材料の非破壊検査方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-131614
出願人:株式会社日立製作所
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特開平2-042355
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特開平2-042355
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