特許

J-GLOBAL ID：200903086134018884

電子機器の性能試験装置

発明者： 古 川 勇 人
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-323230
公開番号（公開出願番号）：特開平5-157592
出願日： 1991年12月06日
公開日（公表日）： 1993年06月22日
要約：

【要約】【目的】 試験項目の追加や試験条件の変更を随時行なえるよう、また、試験データの取得、性能判定、試験成績表の作成に至る一連の手順を自動的にしかも被検査製品の種類、試験内容に応じて汎用的に実行できるようにする。【構成】 入力装置1から入力された試験項目、試験条件等の試験情報の設定、変更、追加等を行う試験情報編集手段8と、上記試験情報の編集画面を表示装置に表示する制御を行う編集画面表示制御手段12と、上記試験情報編集手段12にて設定された試験条件に基づき信号発生器3の出力信号の制御および測定器4を制御する試験制御手段9と、測定データと判定基準とを比較し試験結果の良否を判定する試験結果判定手段10と、試験情報、試験結果を帳票化して出力装置7に出力する試験結果出力手段11からなる。

請求項（抜粋）：

被試験製品に試験信号を印加する信号発生器と、被試験製品の性能特性を示す出力信号を測定する測定器と、試験項目、試験条件等の情報を入力する入力装置と、試験結果を表示する表示装置と、試験情報、測定結果を所定の書式で出力する出力装置を備えた電子機器の性能試験装置において、上記入力装置から入力された試験項目、試験条件等の試験情報の設定、変更、追加、削除、組み替え等を行う試験情報編集手段と、上記試験情報の編集画面を表示装置に表示する制御を行う編集画面表示制御手段と、上記試験情報編集手段にて設定された試験条件に基づき信号発生器の出力信号の制御および測定器を制御する試験制御手段と、上記測定器から与えられて測定データと試験情報編集手段から与えられた判定基準とを比較し試験結果の良否を判定する試験結果判定手段と、試験情報、試験結果を上記試験情報編集手段による編集に従って帳票化して出力装置に出力する試験結果出力手段とを具備することを特徴とする電子機器の性能試験装置。