特許
J-GLOBAL ID：200903086146064750
ディスクリート型電子部品のはんだ形態検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中川 國男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-349717
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174444
出願日： 1992年12月02日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：
【要約】【目的】 ディスクリート型電子部品のはんだ不良を画像処理の技術によって観測し、はんだ付け状態の良否のほか不良項目を正確に判定することである。【構成】 検査対象のディスクリート型電子部品のはんだ付け部分を撮像して所定階調の濃度に応じた画像信号に変換し、この画像信号から各濃度に対応する画素数の濃度ヒストグラムを作成し、各濃度での濃度ヒストグラムとはんだ形態項目毎に予め登録した標準濃度ヒストグラムの度数差の総和を求め、総和の最も小さい標準濃度ヒストグラムを特定し、これに対応する良品、不良品の不良項目を判定結果とする。
請求項（抜粋）：
検査対象のディスクリート型電子部品のはんだ付け部分を撮像して所定階調の濃度に応じた画像信号に変換し、この画像信号から各濃度に対応する画素数の濃度ヒストグラムを作成し、各濃度での濃度ヒストグラムとはんだ形態項目毎に予め登録した標準濃度ヒストグラムの度数差の総和を求め、この総和の最も小さい標準濃度ヒストグラムに対応する形態項目を判定結果とすることを特徴とするディスクリート型電子部品のはんだ形態検査方法。
IPC (5件)：
G01B 11/24
, B23K 1/00
, G01N 21/88
, G06F 15/70
, H05K 3/34
