特許
J-GLOBAL ID：200903086182762498
比誘電率の測定方法および装置ならびに埋設物の探査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-033650
公開番号（公開出願番号）：特開平5-232220
出願日： 1992年02月20日
公開日（公表日）： 1993年09月07日
要約：
【要約】【目的】 地中埋設管が埋設されている土壌の比誘電率を容易に測定し、その地中埋設管の頂部の探査を容易に行うことができるようにすること。【構成】 地表面から電磁波を放射し、地中埋設管による反射波を受信し、地中埋設管を横切るように移動しつつ放射した電磁波と反射波との時間差に基づいて土壌断面の原画像を作成し、土壌の比誘電率を順番に変更しつつ設定しながら、その原画像の少なくとも一部分を用いて、地中埋設管の見かけの位置から真の位置に戻すマイグレーション法による演算処理を行い、こうして得られた処理画像から、地中埋設管の頂部の収斂の程度を評価し、高い収斂の程度が得られた比誘電率を、実際の比誘電率と定め、その実際の比誘電率によって得られたマイグレーション法による処理画像を目視表示する。
請求項（抜粋）：
埋設物が埋設されている隠蔽場所の表面に沿って移動しつつ、隠蔽場所に、電磁波を放射し、埋設物による反射波を受信し、放射した電磁波と反射波との時間差に基づいて隠蔽場所の断面の原画像を作成し、隠蔽場所から埋設物までの比誘電率を順番に変更しつつ設定し、設定した各比誘電率を用いて、原画像の少なくとも一部分を用いて、埋設物の見かけの位置から真の位置に戻すマイグレーション法による演算処理を行い、その演算処理によって得られた埋設物の像の収斂の程度を評価し、高い収斂の程度が得られた比誘電率を、隠蔽場所から埋設物までの比誘電率であると判定する比誘電率の測定方法。
IPC (2件)：
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