特許

J-GLOBAL ID：200903086300475849

半導体集積回路装置の信頼性検証方法及びその配置配線方法

発明者： 山口 龍一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 前田 弘 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-338913
公開番号（公開出願番号）：特開2000-163460
出願日： 1998年11月30日
公開日（公表日）： 2000年06月16日
要約：

【要約】【課題】 セル内部の解析や新たなテーブルの作成を不要とする半導体集積回路装置の信頼性検証方法及び配置配線方法を提供する。【解決手段】 仮想配線容量を計算するステップST12と、遅延ライブラリーLibdlの情報から遅延時間及び信号のスルーレートを計算するステップST13と、これらのステップで得られた仮想配線容量と信号のスルーレートとを用いて配線の電流量を算出するステップST14と、許容電流量を満たす配線幅を計算するステップST15と、その結果に基づいて自動レイアウト処理を行なうステップST15とを備えている。この結果、実際の配線生成以前に、配線を流れる電流量の高速かつ正確な解析が可能となり、さらに信頼性基準を満たす配線を生成することができる。

請求項（抜粋）：

論理機能を有する複数のセルを配置して、上記セルの端子間を配線で接続してなる半導体集積回路装置の信頼性検証方法であって、ネットリストからネットのファンアウト数に関する情報を取り出して、ファンアウト数に基づき仮想配線容量を推定する第1のステップと、上記仮想配線容量および上記ネットに接続される端子容量を加算して負荷容量を計算するとともに、遅延ライブラリーから上記セルの遅延時間および出力端子の駆動能力に関する情報を取り出して、上記出力端子によって駆動される配線を通過する信号のスルーレートを計算する第2のステップと、上記スルーレートと上記負荷容量とに基づいて、上記配線を通過する電流量を計算する第3のステップと、上記電流量から算出される配線の電流密度が信頼性維持のための許容電流密度を越えないように、配線の幅が確保されているか否かを検証する第4のステップとを備えていることを特徴とする半導体集積回路装置の信頼性検証方法。

IPC (4件)：

G06F 17/50 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/66 ,  H01L 21/82

FI (8件)：

G06F 15/60 666 Y ,  H01L 21/66 Z ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 656 F ,  G06F 15/60 656 D ,  G06F 15/60 658 U ,  H01L 21/82 T ,  H01L 21/82 C

Fターム (28件)：

2G032AA00 ,  2G032AB03 ,  2G032AC08 ,  2G032AE12 ,  4M106AA04 ,  4M106BA20 ,  4M106CA70 ,  5B046AA08 ,  5B046BA04 ,  5B046JA07 ,  5B046KA06 ,  5F064EE08 ,  5F064EE09 ,  5F064EE42 ,  5F064EE43 ,  5F064EE47 ,  5F064EE60 ,  5F064HH06 ,  5F064HH10 ,  5F064HH12 ,  9A001BB05 ,  9A001GG05 ,  9A001HH32 ,  9A001JJ50 ,  9A001KK11 ,  9A001KK31 ,  9A001KK36 ,  9A001LL02

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 設計支援方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-177368   出願人：日本電気株式会社