特許

J-GLOBAL ID：200903086342714860

回路素子の定数測定装置

発明者： 島田 宏一 ,  柴田 勤 ,  清水 一樹
出願人/特許権者： 日置電機株式会社
代理人 (1件)： 大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-223316
公開番号（公開出願番号）：特開平6-051004
出願日： 1992年07月30日
公開日（公表日）： 1994年02月25日
要約：

【要約】【目的】 sin、cosテーブルおよび基準ベクトルとなる信号などが不要で、2つの信号の各1周期内からサンプリングされたデータから直接的に回路素子の各パラメータを求める。【構成】 被測定素子に印加される交流電圧Vおよび同被測定素子をとおして検出される交流電流Iの少なくとも1周期を所定の時間間隔にて同時的にサンプリングし、A/D変換してそれぞれN個のディジタルデータVi,Ii(i=1〜N)を得、これらのデータVi,Iiから変数AR,AXおよびHを演算するとともに、AR/HおよびAX/Hより少なくとも被測定素子の実効抵抗分Rとリアクタンス分Xとを求める。

請求項（抜粋）：

被測定素子に印加される交流電圧Vおよび同被測定素子をとおして検出される交流電流Iの少なくとも1周期を所定の時間間隔にて同時的にサンプリングしてそれぞれN個のディジタルデータVi,Ii(i=1〜N)に変換するA/D変換回路と、これらのデータVi,Iiから下記の式(1)〜(3)に基づいて変数AR,AXおよびHを演算するとともに、AR/HおよびAX/Hより少なくとも上記被測定素子の実効抵抗分Rとリアクタンス分Xとを求める演算処理手段とを備えていることを特徴とする回路素子の定数測定装置。【数1】【数2】【数3】

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭52-026257
  
• 特開平3-092770