特許
J-GLOBAL ID：200903086349133072
クリーム半田の塗布量の測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-052557
公開番号（公開出願番号）：特開平5-256619
出願日： 1992年03月11日
公開日（公表日）： 1993年10月05日
要約：
【要約】【目的】 基板に塗布されたクリーム半田の塗布量をラインセンサにより簡単に測定できる方法を提供する。【構成】 光学系としてエリア型CCDカメラに替えて、ラインセンサ5を使用する。そしてクリーム半田2が塗布された基板1をコンベア3により搬送しながら、斜上方から光を照射してクリーム半田2の背後に影部6を生じさせ、この影部6の長さLiをラインセンサ5により検出する。またラインセンサ5に取り込まれた輝度の画像データからクリーム半田2の平面積Siを求め、求められた平面積Siと厚さLiを乗算することにより、クリーム半田2の体積Viを求める。
請求項（抜粋）：
クリーム半田が塗布された基板をコンベアにより搬送しながら、斜上方から光を照射してクリーム半田の背後に影部を生じさせ、この影部の長さを、上記コンベアの上方にあってその長手方向を搬送方向と直交する方向に向けて配設されたラインセンサにより検出し、検出された影部の長さに基づいて上記クリーム半田の厚さを求めるとともに、上記コンベアによる搬送にともなって上記ラインセンサに取り込まれた輝度の画像データから上記クリーム半田の平面積を求め、求められた平面積と厚さを乗算することにより、クリーム半田の体積を求めることを特徴とするクリーム半田の塗布量の測定方法。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, B41F 15/08 303
, B41F 15/40
, H05K 3/34
