特許
J-GLOBAL ID：200903086393417371
X線検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-188068
公開番号（公開出願番号）：特開平7-043321
出願日： 1993年07月29日
公開日（公表日）： 1995年02月14日
要約：
【要約】【目的】 重元素を含む物体と軽元素を含む物体とが混在していても両方の透過した画像を得ることができ、しかも解像度を向上させたX線検査装置を提供する。【構成】 被検査物3を透過したX線を検出して画像を生成するX線検査装置において、150KV以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エネルギーのX線とを切り替え自在に被検査物に照射するX線源1と、被検査物3を透過したX線を検出する検出器2と、検出器2より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像とを合成する画像合成手段5とを備えたことを特徴としている。
請求項（抜粋）：
被検査物を透過したX線を検出して画像を生成するX線検査装置において、150KV以上の高エネルギーのX線と150KV未満の低エネルギーのX線とを切り替え自在に前記被検査物に照射するX線源と、前記被検査物を透過したX線を検出する検出器と、該検出器より得られる高エネルギー画像と低エネルギー画像とを合成する画像合成手段とを備えたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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