特許

J-GLOBAL ID：200903086394263661

集積回路及びそのテスト方法

発明者： 郷内 信行
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-088562
公開番号（公開出願番号）：特開平6-300814
出願日： 1993年04月15日
公開日（公表日）： 1994年10月28日
要約：

【要約】【目的】 本発明は集積回路及びそのテスト方法に関し、極めて単純でかつ画一的な構成のDCテスト支援回路を備える集積回路及びこのような集積回路のDCテストを簡単なプログラムにより高速に行えるテスト方法の提供を目的とする。【構成】 出力回路のDCテスト機能を備える集積回路において、テスト信号及びテストグループの選択信号を入力する入力端子2と、テストグループの選択信号に基づいてDCテストの対象になるグループを選択的に付勢する選択付勢回路3と、選択付勢回路3の出力により付勢されてN個以下の数毎にグループ分けされている各出力回路1の入力を夫々原信号からテスト信号に切り換える切換回路4とを備える。好ましくは、N個は複数の出力回路1を同時にスイッチングさせ得る最大の数とする。また上記集積回路のテスト方法において、(a)1のテストグループを選択し、(b)テスト信号を入力して前記1のテストグループの各出力信号を検査し、(c)上記ステップ(a),(b)を複数のテストグループについて順次実行する。

請求項（抜粋）：

出力回路のDCテスト機能を備える集積回路において、テスト信号及びテストグループの選択信号を入力する入力端子(2)と、テストグループの選択信号に基づいてDCテストの対象になるグループを選択的に付勢する選択付勢回路(3)と、選択付勢回路(3)の出力により付勢されてN個以下の数毎にグループ分けされている各出力回路(1)の入力を夫々原信号からテスト信号に切り換える切換回路(4)とを備えることを特徴とする集積回路。

IPC (4件)：

G01R 31/26 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/66 ,  H01L 27/04