特許

J-GLOBAL ID：200903086403023733

赤外線水分測定装置

発明者： 中村 賢三 ,  星谷 勇 ,  丹野 健一 ,  林 知幸 ,  保坂 孝彦 ,  小西 賢二 ,  河副 定次 ,  綱川 順之
出願人/特許権者： 東京都下水道サービス株式会社 ,  オルガノ株式会社 ,  日本たばこ産業株式会社
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-297489
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159959
出願日： 1994年11月30日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】赤外線水分測定装置において汚泥など水分の多い測定物の水分値を重回帰演算を適用し、品種に関わりなく単一検量線での適用範囲を拡大可能とするものである。【構成】光学系1で水分測定赤外線と参照赤外線の他に多成分測定用の赤外線を照射して各受光量をPbS11で電圧信号に変換する。アンプ2で増幅し、AGC回路3で参照赤外線の出力が一定になるように出力を調整する。各出力電圧をA/D変換回路4でデジタルデータに変換し、演算処理部51で吸光度を求める。吸光度とAGC倍率Qを独立変数とする線型結合式の検量線に基づいて水分値を求めて表示部54に表示する。検量線の係数は重回帰演算で求める。

請求項（抜粋）：

被測定物に水分測定赤外線、参照赤外線および特定成分に吸収される特定成分測定赤外線を照射し、該被測定物からの水分測定赤外線の反射光量、参照赤外線の反射光量および特定成分測定赤外線の反射光量の各反射光量を電圧信号に変換し、各電圧信号を参照波長赤外線の電圧信号が一定レベルになるような倍率で増幅し、該増幅された電圧信号に基づいて各波長領域についての吸光度を求め、該吸光度に基づいて被測定物の水分値を求める赤外線水分測定装置であって、前記吸光度と前記倍率を独立変数とする線型結合式に基づいて該線型結合式の従属変数を水分値として出力する測定制御部を備えたことを特徴とする赤外線水分測定装置。