特許
J-GLOBAL ID：200903086405528425
三次元測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
杉本 修司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-355088
公開番号（公開出願番号）：特開平6-186025
出願日： 1992年12月16日
公開日（公表日）： 1994年07月08日
要約：
【要約】【目的】 使用者が任意に指定した座標のもとで、非接触走査により得られる多くのデータを取り扱えるようにして、三次元モデル上の任意の断面や特定部分の形状修正の近似処理などに有効に活用できる測定データを得られるようにする。【構成】 測定対象物4にレーザ光を投射する投光部2および測定対象物4上の光像を入力してビデオ信号として出力する撮像部3を、X軸、Y軸およびZ軸方向に移動させて、非接触走査により測定対象物4の第1の座標系の座標位置を求める非接触型の装置に加えて、使用者が指定する点位置を測定する接触式測定ヘッド6を搭載したもので、非接触走査により得られた第1の座標系の座標データを、点位置に基づき第2の座標系の座標データに変換する。
請求項（抜粋）：
測定対象物に光を投射する投光部と、一次元もしくは二次元上に配列された検出素子を持ち、上記投光部からの光投射による測定対象物上の光像を入力しアナログビデオ信号として出力する撮像部と、上記投光部および撮像部を保持し第1軸方向に移動させて、その移動量を出力する第1軸駆動制御部と、この第1軸駆動制御部を保持し第2軸方向に移動させて、その移動量を出力する第2軸駆動制御部と、この第2軸駆動制御部を保持し第3軸方向に移動させて、その移動量を出力する第3軸駆動制御部と、上記アナログビデオ信号をデジタル信号に変換して一次元もしくは二次元上の最輝度位置を求める光点検出部と、求められた最輝度位置から測定物空間の第1の座標系における座標位置を求めるデータ生成部と、測定対象物に接触する接触子を有し、該接触子が測定対象物に接触した時点でトリガ信号を出力する接触測定ヘッドと、上記トリガ信号により上記第1軸,第2軸および第3軸駆動制御部から移動量を入力して第1の座標系の座標として格納する位置検出部と、この位置検出部に格納された3点以上の座標データから平面を決定することで第2の座標系を定義する座標生成部と、上記データ生成部および位置検出部のデータを第2の座標データに変換する座標変換部とを有する三次元測定装置。
IPC (2件)：
G01B 21/20 101
, G01B 11/24
