特許

J-GLOBAL ID：200903086419170345

測距装置

発明者： 東野 文宣
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴木 章夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-160846
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171687
出願日： 1999年06月08日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：

【要約】【課題】 受光センサとしてCCDを用いてパッシブ測距とアクティブ測距を可能とし、かつパッシブ測距とアクティブ測距の短所を改善して高精度の測距を実現可能にした測距装置を提供する。【解決手段】 CCD素子で構成される受光センサ(パッシブセンサPSA,PSBとアクティブセンサAS)と、被写体に対して光を照射する発光素子(LED)40とを備える。発光素子40にはパターンマスク41が配置され、所要の光強度パターンの光を被写体に照射し、その反射光をパッシブセンサPSA,PSBとアクティブセンサASで受光可能とする。所要の光強度パターンをアクティブセンサASで受光して被写体像の重心位置を求めてアクティブ測距を行い、かつ所要の光強度パターンを補助光としてパッシブセンサPSA,PSBで受光してパッシブ測距を行う。

請求項（抜粋）：

CCD素子で構成される複数のパッシブセンサを備えるパッシブ測距装置と、発光手段及びCCD素子で構成されるアクティブセンサを備えるアクティブ測距装置とを備え、前記発光手段は被写体に対して所要の光強度パターンで光照射を行う発光特性を有し、前記発光手段で発光されかつ前記被写体で反射した光を前記パッシブセンサ及びアクティブセンサのそれぞれで受光可能としたことを特徴とする測距装置。

IPC (7件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G02B 7/32 ,  G02B 7/36 ,  G02B 7/30 ,  G03B 13/36 ,  H01L 33/00

FI (7件)：

G02B 7/11 N ,  G01C 3/06 Z ,  H01L 33/00 L ,  G02B 7/11 B ,  G02B 7/11 D ,  G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A