特許
J-GLOBAL ID:200903086451075877

質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 小林 良平
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-290781
公開番号(公開出願番号):特開2005-063770
出願日: 2003年08月08日
公開日(公表日): 2005年03月10日
要約:
【課題】 試料のイオン化を効率的に行うことが可能な、検出感度の高い質量分析装置を提供する。 【解決手段】 エレクトロスプレーのノズルの先端部より試料溶液を噴霧するとともに、該ノズル先端部に設けた電極に高電圧を印加することにより試料のイオンを含む液滴を形成する質量分析装置において、該電極の長さをその径と略同一又はそれ以下とするか、又は該電極の形状を、液滴噴霧口を頂点とするテーパ状とするか、又は該ノズル先端部の電極の近傍に、ノズルと同軸のイオン通過口を有する電極を設けて、両電極間に大きな電位勾配を有する電界が形成されるようにする。このような方法により、試料溶液の液滴噴霧口近傍における電界強度を高め、試料のイオン化を効率的に行う。【選択図】 図9
請求項(抜粋):
ノズルの先端部より試料溶液を噴霧するとともに、該ノズル先端部に設けた電極に高電圧を印加することにより試料のイオンを含む液滴を形成する質量分析装置において、該電極の長さをその径と略同一又はそれ以下としたことを特徴とする質量分析装置。
IPC (3件):
H01J49/10 ,  G01N27/62 ,  H01J49/04
FI (3件):
H01J49/10 ,  G01N27/62 F ,  H01J49/04
Fターム (6件):
5C038EE02 ,  5C038EF04 ,  5C038GG08 ,  5C038GH05 ,  5C038GH09 ,  5C038GH11
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (12件)
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