特許

J-GLOBAL ID：200903086471097079

線状不良の検出方法

発明者： 後藤 一夫
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 逢坂 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-215168
公開番号（公開出願番号）：特開平7-055717
出願日： 1993年08月06日
公開日（公表日）： 1995年03月03日
要約：

【要約】【構成】 原画像から輝度異常部分を消去した第1の画像を得、この第1の画像と前記原画像との差をとることによって、前記輝度異常部分のみを抽出した第2の画像を得、この第2の画像をラベル付けし、このラベル付けされた画像の構成画素の割合を求めることによって、前記輝度異常部分に含まれるヒビ、キズ等の線状不良を検出する、線状不良の検出方法。【効果】 これまでは検出困難であったヒビ、キズ等の幅狭で微小な線状不良も確実に検出できる。しかも、この検出操作を自動化し、効率的かつ安定に行うことができる。

請求項（抜粋）：

対象物の原画像を画像処理することによって前記対象物の線状不良を検出するに際し、前記原画像から輝度異常部分を消去した第1の画像を得る工程と、この第1の画像と前記原画像との差をとることによって、前記輝度異常部分のみを抽出した第2の画像を得る工程と、この第2の画像をラベル付けする工程と、このラベル付けされた画像の構成画素の割合を求めることによって、前記輝度異常部分に含まれる線状不良を検出する工程とを有する、線状不良の検出方法。

IPC (4件)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  G06T 5/20 ,  G11B 5/455

FI (2件)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/68 400 A