特許

J-GLOBAL ID：200903086480061052

測定装置、及び測定システム

発明者： 今井 寿教 ,  干場 隆司
出願人/特許権者： サンクス株式会社
代理人 (3件)： 後呂 和男 ,  村上 二郎 ,  水澤 圭子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-156091
公開番号（公開出願番号）：特開2008-311336
出願日： 2007年06月13日
公開日（公表日）： 2008年12月25日
要約：

【課題】部品点数を増加させることなく、処理の高速化の要請、光軸調整作業の容易化の要請に応じることが可能な測定装置、及びそれを使用した測定システムを提供することを目的とする。【解決手段】本測定装置50は、制御回路110により、2次元CMOSイメージセンサ85をモードに応じてソフト的に使い分けている。すなわち準備モードではCMOSイメージセンサ85を二次元的に使用し、測定モードではCMOSイメージセンサ85を一次元的に使用している。従って、CMOSイメージセンサ85それ自体は1つで済むから部品増とならない上、二次元としてのメリット(光軸調整作業の容易化)、及び一次元としてのメリット(高速処理)の双方を共に発揮することが可能である。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

二次元状に配置される複数の受光素子からなるとともに、受光信号の読み出しが、同一方向に並ぶ読み出しラインのうち任意の読み出しラインを指定して行うことが可能とされた撮像部を有する受光手段と、 検出光を出射し前記受光手段と共に被検出物を検出する検出光軸を構成する投光手段と、 前記撮像部を構成する前記受光素子から受光信号を読み出す信号読出手段と、 前記撮像部の全読み出しラインの中から一ライン上の受光素子を、外部装置の指示に基づいて検出範囲として設定する検出範囲設定手段と、 前記検出範囲の設定を行う準備モードと、設定された検出範囲を構成する受光素子に基づいて測定を行う測定モードとにモードを切り換えるモード切替手段と、 前記信号読出手段に読出指令を与える制御手段と、 測定手段と、からなる測定装置であって、 前記制御手段は、前記準備モードが選択されている場合には、連続する複数の読み出しラインの受光信号を読み出す旨の読出指令を前記信号読出手段に与えると共に、前記信号読出手段にて読み出された各読み出しラインの受光信号を外部の表示装置に対して出力させる一方、 前記測定モードが選択されている場合には、前記検出範囲設定手段により設定された検出範囲の受光信号のみを読み出す旨の読出指令を前記信号読出手段に与え、 前記測定手段は、前記測定モードにおいて、前記信号読出手段を通じて読み出された各受光信号のレベルが入光レベルにあるか、遮光レベルにあるかを検出する処理を行うことにより、検出範囲上において受光信号のレベルが入光レベルから遮光レベル、或いは遮光レベルから入光レベルに切り替わる入遮光位置を測定して出力することを特徴とする測定装置。

IPC (3件)：

H05K 13/08 ,  G01J 1/06 ,  G01V 8/12

FI (3件)：

H05K13/08 P ,  G01J1/06 B ,  G01V9/04 A

Fターム (9件)：

2G065BA06 ,  2G065BA34 ,  2G065BB44 ,  2G065BC11 ,  2G065BC33 ,  2G065BC35 ,  2G065BD01 ,  2G065DA15 ,  2G065DA20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 非接触型外形測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-309944   出願人：株式会社キーエンス