特許
J-GLOBAL ID：200903086533531080
粒子分析方法及び粒子分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-014762
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229904
出願日： 1993年02月01日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】粒子検出光学系及び画像撮像光学系を備えた粒子分析装置及びその分析方法において、各光学系やサンプル液流れの調整が容易に行えるようにする。【構成】装置調整時において、レ-ザ光源15から発するレーザ光をフロ-セル100中のサンプル液に照射し、サンプル液中の粒子による散乱光の静止画像を撮像しモニター11上に表示させる。そして、モニター11上に設けられた十字線によってレーザ光の焦点位置及び集束位置、並びにサンプル液流れ110の位置の調整を行う。また、この静止画像を解析して検出光の散乱光強度分布や顕微鏡対物レンズ5の合焦点情報等の光学情報を得、これに基づいて顕微鏡対物レンズ5の焦点位置の調整を自動的に行う。この顕微鏡対物レンズ5の焦点位置の調整はモニター11上に表示させた光学情報をもとに手動で行ってもよい。
請求項（抜粋）：
粒子を懸濁させたサンプル液をフローセルに流し、検出光源より発する検出光を前記フローセルに照射し、前記検出光の散乱光により前記粒子が静止画像取り込み領域を通過することを検出し、その検出に基づいてパルス光源より発せられるパルス光束を前記フローセルに照射し、前記フローセルに照射されたパルス光束を集光レンズにより集光し、このパルス光束に基づく前記フローセル中の通過粒子の画像を撮像装置により取り込み、得られた静止画像を画像処理し該サンプル液中の粒子の分析を行う粒子分析方法において、前記通過粒子の画像の撮像を行わない装置調整時に、前記検出光の散乱光を前記集光レンズにより集光して前記撮像装置により取り込み、その散乱光像を表示装置上に表示させ、前記散乱光像に基づいて前記検出光の焦点位置及び照射位置、並びに前記サンプル液の流れの位置の調整を行うことを特徴とする粒子分析方法。
IPC (3件)：
G01N 15/14
, G01N 21/53
, G01N 33/49
