特許
J-GLOBAL ID：200903086535625813
零点計測方法及び計量装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
角田 嘉宏
, 古川 安航
, 西谷 俊男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-029302
公開番号（公開出願番号）：特開2005-221367
出願日： 2004年02月05日
公開日（公表日）： 2005年08月18日
要約：
【課題】 高精度な計量動作を維持することができる高い計量精度を保ちつつ高い計量処理能力を実現することができる零点計測方法、およびその方法を実施するための計量装置の提供。【解決手段】 被計量物の重量を測定するための計量器の運転中に当該計量器の零点計測を繰り返し実行する零点計測方法において、前記計量器の零点重量値の変動量を算出するステップと、算出された前記計量器の零点重量値の変動量に基づいて、前記計量器の零点重量値の時間変化率を算出するステップと、算出された前記計量器の零点重量値の時間変化率の大,小に応じて、零点計測を実行する時間間隔を短,長とするステップとを有する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
被計量物の重量を測定するための計量器の運転中に当該計量器の零点計測を繰り返し実行する零点計測方法において、
前記計量器の零点重量値の変動量を算出するステップと、
算出された前記計量器の零点重量値の変動量に基づいて、零点計測を実行する時間間隔を決定するステップと
を有することを特徴とする零点計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01G23/37 B
, G01G19/387 B
