特許

J-GLOBAL ID：200903086552955444

試験装置

発明者： 石田 昭人
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-126004
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322980
出願日： 1992年05月19日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】 半導体集積回路などの出力結果を判断する試験装置の構成を大形化することなく、半導体集積回路の信頼性を向上する。【構成】 XOR回路24で現在の期待値と次回の期待値とを比較し、これらの期待値が異なるときのみ、XOR回路24からハイレベルの信号を出力する。第2クロック選択回路56のAND回路25への出力がハイレベルとなったときに、XOR回路24からハイレベルの信号が出力されていればフリップフロップ26の入力端子Rにハイレベルの信号が入力され、フリップフロップ26から出力されるストローブ信号である信号i1がローレベルとなり、第2クロック選択回路56のフリップフロップ26の入力端子Sに対する出力がハイレベルになれば、フリップフロップ26の出力をハイレベルとする。このため、期待値が変化するときのみストローブ信号がローレベルとなる。

請求項（抜粋）：

被測定回路からのテスト結果出力を、予め定める期待値と比較し、比較結果に基づいて前記被測定回路の判定を行う試験装置において、被測定回路からのテスト結果出力と期待値との比較を行う比較手段と、前記期待値の変化状態に対応して比較手段出力の出力/停止を行うストローブ信号を作成するストローブ信号作成手段と、前記ストローブ信号作成手段からのストローブ信号に基づいて、前記比較手段出力の出力と停止とを切換える切換手段とを含むことを特徴とする試験装置。