特許
J-GLOBAL ID：200903086556477199
電気機器の試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
児玉 俊英
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-181216
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013197
出願日： 1999年06月28日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：
【要約】【課題】 工場で組み立てられた被試験電気設備の各種試験項目が短時間で連続して実施でき、試験設備の稼働率の向上と各種試験項目の試験時間の短縮を図ることができる試験装置を提供する。【解決手段】 高圧ブッシング4の取付部に装着され、高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体30と、試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパルス電圧発生装置10に接続される高電圧試験用ブッシング23と、温度上昇試験用電源9に接続される中電圧試験用ブッシング24と、一般特性用試験装置11に接続される低電圧試験用ブッシング25aと、試験項目に応じて高電圧ブッシングを各試験用ブッシングに選択的に接続し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段16、17、18〜20とを有する試験装置130を備えた構成とする。
請求項（抜粋）：
高圧回路に接続される高圧ブッシングと、低圧回路に接続される低圧ブッシングとを有する電気機器の試験装置において、上記高圧ブッシングの取付部に装着され、上記高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体と、上記試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパルス電圧発生装置に接続される高電圧試験用ブッシングと、温度上昇試験用電源に接続される中電圧試験用ブッシングと、一般特性用試験装置に接続される低電圧試験用ブッシングと、試験項目に応じて上記高電圧ブッシングを上記各試験用ブッシングに選択的に接続し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段とを有する試験装置を備えた電気機器の試験装置。
Fターム (4件)：
2G015AA21
, 2G015CA01
, 2G015CA04
, 2G015CA05
