特許
J-GLOBAL ID:200903086559114607

粒度分布測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤本 英夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-142963
公開番号(公開出願番号):特開2001-324441
出願日: 2000年05月16日
公開日(公表日): 2001年11月22日
要約:
【要約】【課題】 粒度分布測定装置のバリデーション作業を手順を装置操作者に知らせる機能を持たせることによって、複雑なバリデーション作業におけるミスの発生を防止することができる粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 粒度分布測定装置1のバリデーション作業の手順を示すバリデーションデータDを記録する記憶媒体3mと、このバリデーションデータDから順次バリデーションの手順を読み取ると共に、この手順のうち装置操作者の操作を必要としない測定手順に従った粒度分布測定装置1の制御を順次実行する一方、装置操作者の操作を必要とする作業手順を装置操作者に指示するためのバリデーション支援機能とを有する装置制御部3を備えた。
請求項(抜粋):
粒度分布測定装置のバリデーション作業の手順を示すバリデーションデータを記録する記憶媒体と、このバリデーションデータから順次バリデーションの手順を読み取ると共に、この手順のうち装置操作者の操作を必要としない測定手順に従った粒度分布測定装置の制御を順次実行する一方、装置操作者の操作を必要とする作業手順を装置操作者に指示するためのバリデーション支援機能を有する装置制御部とを備えたことを特徴とする粒度分布測定装置。
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-038134   出願人:株式会社日立製作所
審査官引用 (1件)
  • 自動分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-038134   出願人:株式会社日立製作所

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