特許
J-GLOBAL ID:200903086604412878

熱分析制御型ラマン分光測定方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 米田 潤三 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-289061
公開番号(公開出願番号):特開平11-108868
出願日: 1997年10月06日
公開日(公表日): 1999年04月23日
要約:
【要約】 (修正有)【課題】 熱分析による試料の物性変化の検出と同時に、所望の温度における試料の分子構造等の分析を高い精度で行う。【解決手段】 レーザー光源部2と、レーザー光を試料加熱冷却部4内の試料に集光するための光学系と試料から誘発したラマン散乱光を集光するための光学系を有するプローブ部およびラマン散乱光を分光する光学系を有しスペクトル強度を検知する分光検出部を有するラマン分光光度計3と、試料の温度を変化させる温度調節器6、試料の温度を検出する温度検出器7、ラマン分光光度計3で測定したラマン分光スペクトルの変化を検出するスペクトル解析部8、温度調節器6を制御して温度検出器7で検出された温度から試料の吸熱・発熱量を算出し、かつ、スペクトル解析部8で検出された分光スペクトルの変化に応じて温度制御信号を温度調節器6に発する演算制御部5とを備えたものとする。
請求項(抜粋):
試料の温度を変化させながら該試料の吸熱・発熱量を定量的に計測し、同時に、試料にレーザー光を照射して誘発されたラマン散乱光の分光スペクトルを測定し、該分光スペクトルの変化に応じて試料の温度制御プログラムを変化させることを特徴とする熱分析制御型ラマン分光測定方法。
IPC (2件):
G01N 25/20 ,  G01N 21/65
FI (2件):
G01N 25/20 F ,  G01N 21/65

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