特許
J-GLOBAL ID:200903086650513956

電気的漏水検出方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 茂見 穰
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-318942
公開番号(公開出願番号):特開平7-146202
出願日: 1993年11月25日
公開日(公表日): 1995年06月06日
要約:
【要約】【目的】 遮水構造物内に設置した電流源が形成する電位(一次電位)の影響を受けず、また遮水構造物内の比抵抗構造に影響されず、検出精度並びに信頼性を高める。漏水箇所の規模の相対的な評価も可能とする。【構成】 遮水構造物内外に電流電極を設けると共に、多数の電極を面的に配置する。電流電極間に通電して各電極で電位を測定し、ポールダイポール配置見掛け比抵抗に変換する。他方、多数の電極を用いて四極法配置により比抵抗分布を測定し、それを用いてポールダイポール配置見掛け比抵抗における比抵抗構造の影響を補正し、微分処理を施して求めた極値をもって漏水箇所とする。あるいは式δi=▽σ▽φ+σ▽2 φにより電流密度の総増量δiを求め、δiが有意な値を示したとき、その位置をもって漏水箇所とする。δiの大きさと漏水発生箇所近傍の比抵抗値から漏水規模を評価する。
請求項(抜粋):
電気絶縁性の遮水シートを地面に布設して造成した遮水構造物からの漏水を検出する方法であって、該遮水構造物内外にそれぞれ電流電極を設けると共に、遮水構造物内に多数の電極を面的に分散配置し、前記電流電極間に通電して各電極で電位を測定し、それをポールダイポール配置見掛け比抵抗に変換し、他方、前記の多数の電極を用いて四極法配置により比抵抗を測定し、該比抵抗分布を用いてポールダイポール配置見掛け比抵抗における比抵抗構造の影響を補正し、微分処理を施して求めた極値をもって漏水箇所とする電気的漏水検出方法。

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