特許
J-GLOBAL ID：200903086668721165
温度測定方法および非破壊欠陥検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-176419
公開番号（公開出願番号）：特開平7-035620
出願日： 1993年07月16日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：
【要約】【構成】 赤外線サーモグラフ装置をもちいて、被測定物の表面温度分布を測定する温度測定方法において、赤外線サーモグラフ装置の有効検知波長帯域内における透過層の赤外線吸収波長域を含む波長帯域を除去するバンドカットフィルターを配設したことを特徴とする温度測定方法および被測定物の表面温度分布から被測定物内部の欠陥を検出する非破壊検査方法。【効果】 被測定物の材質や表面の放射率の違いや凹凸度に左右されずに被測定物表面の高精度な温度分布の測定を可能にして、被測定物内部の欠陥検出を可能にする非破壊検査方法が提供される。
請求項（抜粋）：
赤外線サーモグラフ装置を用いて温度分布を測定する方法において、赤外線センサーと被測定物との間に、0.2以上の放射率をもつ材料から成る高放射率層と、赤外線透過材料から成る層である透過層とを、前記高放射率層が被測定物側に位置し前記透過層が赤外線センサー側に位置するように配して、さらに、赤外線サーモグラフ装置の検出波長帯域内にある前記赤外線透過層の赤外線の特定吸収波長を含む波長帯域を除去するバンドカットフィルターを透過層と赤外線サーモグラフ装置の赤外線センサー間に配設し、これらの層を通して、被測定物の表面温度分布を測定する方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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