特許
J-GLOBAL ID：200903086739055439
しきい値算出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-329601
公開番号（公開出願番号）：特開平7-162762
出願日： 1993年12月02日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：
【要約】【目的】 CCD受像素子の画像むらを効果的に検出するためにCCD検査装置で使用するしきい値を算出する。【構成】 ヒストグラム演算部45は、画素の出力値である画素値のヒストグラムを演算する。ブロック値演算部46は、複数の画素を所定数ごとにブロックとして区分し、ブロック内の画素の画素値の平均値であるブロック値を演算する。ブロック・ヒストグラム演算部47は、ブロック値のヒストグラム(ブロック・ヒストグラム)を演算する。スケール補正部48は、ブロック・ヒストグラム又は画素値のヒストグラムのスケールを補正して両者のスケールを等しくする。差分演算部50は、スケールを等しくしたブロック・ヒストグラム及び画素値のヒストグラムを比較する。しきい値選択手段60は、差分演算部50の出力の特徴点を用いてしきい値を選択する。
請求項（抜粋）：
複数の画素を有するCCD受像素子の画像むらの判別の基準として使用するしきい値を算出するしきい値算出装置であって、上記画素の出力値である画素値のヒストグラムを演算する画素値ヒストグラム演算手段と、上記複数の画素を所定数ごとにブロックとして区分し、該ブロック内の画素の画素値の平均値であるブロック値を演算するブロック値演算手段と、上記ブロック値のヒストグラムを演算するブロック・ヒストグラム演算手段と、上記ブロック値のヒストグラム又は上記画素値のヒストグラムのスケールを補正して等しくするスケール補正手段と、スケールを等しくした上記ブロック値のヒストグラム及び上記画素値のヒストグラムを比較する比較手段と、上記比較手段の出力の特徴点を用いてしきい値を選択するしきい値選択手段とを具えるしきい値算出装置。
IPC (3件)：
H04N 5/335
, G01R 31/26
, G02B 7/36
