特許
J-GLOBAL ID：200903086757486315
粒状体の検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-339395
公開番号（公開出願番号）：特開平10-174940
出願日： 1996年12月19日
公開日（公表日）： 1998年06月30日
要約：
【要約】【課題】 検査対象物ごとに供給量を手動設定する必要がなく、又、処理途中で変化する不良発生頻度に対応した供給量条件で適切な選別処理を行うようにして、その作業能率の低下を回避させる。【解決手段】 選別部Sにおける不良物の不良発生頻度が検出され、その不良発生頻度が多いほど選別部Sへの検査対象物(粒状体群k)の供給量が少なくなるように、選別部Sに検査対象物を供給するフィーダ19等の供給部Pからの供給量が変更調節され、選別部Sにおいて供給された粒状体群k内における不良物が検出されて正常物と異なる経路に分離され、不良物が箱3に正常物が箱2に選別回収される。
請求項（抜粋）：
粒状体群を検査対象物として粒状体群内における不良物を検出して、その不良物と正常物とを異なる経路に分離して選別する選別部と、その選別部に供給する検査対象物の供給量を変更調節自在な供給部とが設けられた粒状体の検査装置であって、前記選別部における不良物の不良発生頻度を検出する不良頻度検出手段と、前記不良頻度検出手段の情報に基づいて、前記不良発生頻度が多いほど前記供給部から前記選別部への検査対象物の供給量が少なくなるように制御する供給量制御手段とが設けられている粒状体の検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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