特許
J-GLOBAL ID：200903086768795964
光ファイバ歪測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 暁秀 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-075267
公開番号（公開出願番号）：特開平11-271028
出願日： 1998年03月24日
公開日（公表日）： 1999年10月05日
要約：
【要約】【課題】 短い測定時間で構造物の歪を測定できる光ファイバ歪測定装置を提供する。【解決手段】 光周波数が一定の連続光を発生する連続光発生手段、連続光を信号光と参照光とに分岐する分岐手段、信号光を光パルスに変換する光パルス変換手段、光パルス変換手段から出射される光パルスを偏波保持された被測定光ファイバに入射させ且つ被測定光ファイバからの後方散乱光を出射する光結合手段、光結合手段から出射される後方散乱光と分岐手段から出射される参照光とを合波する合波手段、合波手段から出射される合波光を検波して電気信号に変換し所定の演算処理を施して測定波形を得る検波演算手段、及び、信号光の偏波面と参照光の偏波面とが同一になるように前記各手段を接続する偏波保持光ファイバを具備する。
請求項（抜粋）：
光周波数が一定の連続光を発生する連続光発生手段、連続光を信号光と参照光とに分岐する分岐手段、信号光を光パルスに変換する光パルス変換手段、光パルス変換手段から出射される光パルスを偏波保持された被測定光ファイバに入射させ且つ被測定光ファイバからの後方散乱光を出射する光結合手段、光結合手段から出射される後方散乱光と分岐手段から出射される参照光とを合波する合波手段、合波手段から出射される合波光を検波して電気信号に変換し所定の演算処理を施して測定波形を得る検波演算手段、及び、信号光の偏波面と参照光の偏波面とが同一になるように前記各手段を接続する偏波保持光ファイバを具備することを特徴とする光ファイバ歪測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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