特許
J-GLOBAL ID：200903086803922478
分光光度計
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武石 靖彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-041775
公開番号（公開出願番号）：特開平5-240783
出願日： 1992年02月28日
公開日（公表日）： 1993年09月17日
要約：
【要約】【目的】 試料への光束の入反射角をきわめて小さくしなければならない場合や垂直入射光に対する反射率特性を測定しなければならない場合に好適な分光光度計を提供する。【構成】 測定光束を反射および透過の二方向に分岐する半透鏡と、分岐された光束の一方に対して試料を保持する機構と、試料からの反射光束を前記半透鏡で再度分岐しその反射光束または透過光束の一方を測光する検出機構とからなる分光光度計。
請求項（抜粋）：
測定光束を反射・透過の二方向に分岐する半透鏡と、分岐された光束の一方に対して試料を保持する機構と、試料からの反射光束を前記半透鏡で再度分岐しその反射光束または透過光束の一方を測光する検出機構とからなる分光光度計。
IPC (3件)：
G01N 21/27
, G01J 3/02
, G01J 3/42
