特許
J-GLOBAL ID:200903086841102689

プリント基板の検査装置および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 京本 直樹 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-295361
公開番号(公開出願番号):特開平9-138257
出願日: 1995年11月14日
公開日(公表日): 1997年05月27日
要約:
【要約】【課題】プリント基板の検査を行う際、被検査プリント基板の反りや傾きを防止し、プローブピンの滑りや位置ずれをなくし、プローブピンを測定箇所に確実に接触させる。【解決手段】プレス板1を降下すると、プレス板1に上部基板押えばね7を介して設けられた上部位置決めベースプレート8と、ピンボード5に下部基板押えばね4を介して設けられた下部位置決めベースプレート3で被検査プリント基板9を挟み込み、被検査プリント基板9を水平に保つ。さらにプレス板1を降下すると、上部基板押えばね7と下部基板押えばね4が縮み被検査プリント基板9の測定箇所に上部プローブピン6と下部プローブピン11がそれぞれ接触する。これにより、被検査プリント基板9の反りを押え、確実に接触することができる。
請求項(抜粋):
被検査プリント基板を両面から一対のベースプレートで挟み込んでから前記被検査プリント基板に複数のプローブピンを接触させることを特徴とするプリント基板の検査方法。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開昭63-302377

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