特許

J-GLOBAL ID：200903086873712209

タッチ位置検出装置及びタッチ指示処理装置

発明者： 上村 俊夫 ,  目瀬 道弘 ,  國森 義彦 ,  大條 成人 ,  伊藤 俊一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-220205
公開番号（公開出願番号）：特開平7-230352
出願日： 1994年09月14日
公開日（公表日）： 1995年08月29日
要約：

【要約】【目的】同時に複数のタッチをしたときに個々のタッチ位置を検出でき、かつ、耐久性を向上したタッチ位置検出装置を提供する。【構成】送波器11x、yを経由して分波器群12x、yから送波され、集波生群x、yを経由して受波器14x、14yがパルス形の信号波W2x,W2yを受信する。受信した信号はタッチ位置/押圧検出部23x、23yに送られ、ここで、その信号波のうちどの集波器13x,yで受信したものが減衰しているかどうかを信号波W2x,W2yの減衰している位置および減衰レベルから検出する。これを受けた同時複数タッチ位置検出部24は、例えば、2ヵ所がタッチされた場合、X検出位置X2、X5、Y検出位置Y2、Y5とその押圧Pa、Pbにより、タッチ位置Ta(X2,Y2)とタッチ位置Tb(X5,Y5)を検出する。

請求項（抜粋）：

接触物の接触位置をタッチ位置として、2次元で上記タッチ位置を検出するタッチ位置検出装置において、それぞれ1次元方向のタッチ位置を検出し、検出信号を出力するタッチ位置検出手段を複数有し、かつ、同時に複数の位置がタッチされたときに得られる、該タッチの数より多い複数の候補位置のうちから、個々のタッチ位置を判定する同時複数タッチ位置判定手段を有し、上記タッチ位置検出手段の各々は、タッチにより変化する検出信号に基づいて、タッチ位置の検出を行い、上記同時複数タッチ位置判定手段は、同時に複数の位置がタッチされたときに得られる、該タッチの数より多い複数の候補位置のうち、その位置が有する、上記タッチ位置検出手段の一方の検出信号から抽出される、位置に依存しない少なくとも1つのタッチの特徴量と他方のタッチ位置検出手段の検出信号から抽出される、位置に依存しない少なくとも1つのタッチの特徴量とが一致するものを選択することにより、個々のタッチ位置を判定することを特徴とするタッチ位置検出装置。

IPC (5件)：

G06F 3/03 380 ,  G06F 3/03 330 ,  G06F 3/03 340 ,  G06F 3/033 310 ,  G06F 3/033 350