特許

J-GLOBAL ID：200903086898414881

金属帯の孔状欠陥検査装置

発明者： 遠原 直樹
出願人/特許権者： 日新製鋼株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-244099
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057189
出願日： 2001年08月10日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：

【要約】【課題】 金属帯に発生する孔状欠陥の有無および寸法を精度よく検出する。【解決手段】 長手方向に走行される金属帯22の一方表面23に向けて光源24から出射された光は、金属帯22に孔状欠陥が無いときは金属帯22の一方表面23において、金属帯22に孔状欠陥が有るときは金属帯22の他方表面27に接して設けられる反射ロール28の表面において正反射および乱反射される。金属帯22の一方表面23または反射ロール28の表面において正反射された正反射光29は第1光センサ30によって検出され、乱反射された乱反射光31は第2光センサ32によって検出される。第1および第2光センサ30,32の検出出力に応答して表示手段33に表示される正反射光29および乱反射光31の光強度に基づいて孔状欠陥の有無および寸法を検査する。

請求項（抜粋）：

長手方向に走行される金属帯の一方の表面に向けて光を出射する光源と、金属帯の走行方向に対して直交する方向に軸線を有し、金属帯の他方の表面に接し軸線まわりに回転自在に設けられる反射ロールと、光源から出射され金属帯の一方の表面または反射ロールの表面で正反射された正反射光を検出する第1光センサと、光源から出射され金属帯の一方の表面または反射ロールの表面で乱反射された乱反射光を検出する第2光センサと、第1および第2光センサの検出出力に応答し、正反射光および乱反射光の光強度を表示する表示手段とを含むことを特徴とする金属帯の孔状欠陥検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/894 ,  B21C 51/00 ,  G01B 11/30

FI (4件)：

G01N 21/894 B ,  B21C 51/00 P ,  B21C 51/00 R ,  G01B 11/30 A

Fターム (30件)：

2F065AA49 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065CC06 ,  2F065FF44 ,  2F065GG02 ,  2F065GG12 ,  2F065HH12 ,  2F065HH16 ,  2F065HH17 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ18 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ21 ,  2F065RR05 ,  2F065SS13 ,  2G051AA37 ,  2G051AB04 ,  2G051BA10 ,  2G051BC05 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CA11 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 表面疵検査方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-008664   出願人：川崎製鉄株式会社
• 表面検査方法及び検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-045712   出願人：大日本インキ化学工業株式会社