特許
J-GLOBAL ID：200903086925168383
位置および配向の磁気測定
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
薬師 稔 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-511002
公開番号（公開出願番号）：特表平9-503410
出願日： 1994年10月06日
公開日（公表日）： 1997年04月08日
要約：
【要約】磁気よる位置および配向測定系は、検出空間の対向する側部に配置されたヘルムホルツコイル(34、36、38)からの均一な場と、同じコイルが発生するグラジェント場からなるのが望ましい磁場を使用する。これらの磁場の印加の際にプローブ(50)において検出される場成分を監視することにより、場におけるプローブ(50)の位置および配向を推測することができる。プローブ(50)の表示(108)を被検体の別に取得された画像に重畳して、被検体に対してプローブ(50)の位置および配向を示すことができる。
請求項（抜粋）：
(a)検出空間(32)において複数の異なる磁場を発生する磁石手段(34、36、38)を備え、前記各場は前記検出空間内の基準方向の距離に対して擬線形の大きさを有する少なくとも1つの成分を有し、前記大きさは前記検出空間(32)内の少なくとも幾つかの位置において非ゼロであり、更に、 (b)前記場を所定のシーケンスで発生するように前記磁石手段(34、36、38)を作動させる制御手段(42)と、 (c)対象に接続されかつ前記検出空間(32)内で可動のセンサ(60)とを備え、該センサはセンサ(60)に対して少なくとも2つの異なる局部方向の磁場成分を検出するようになっており、更に (d)前記場の発生の際に検出される前記磁場成分から前記センサ(60)の位置を定める計算手段(46)を備えることを特徴とする対象の位置を測定する装置。
IPC (3件)：
A61B 1/00 300
, A61B 5/107
, G01B 7/004
A61B 1/00 300 P
, A61B 5/10 300 Z
, G01B 7/03
