特許
J-GLOBAL ID：200903086957977011
テストモード機能をもつ半導体集積回路
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
林 敬之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-057556
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273495
出願日： 1993年03月17日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：
【要約】【目的】 テストモード機能をもつ半導体集積回路において、通常モード時、誤動作によりテストモードへ移行しても、発振動作を行うと通常モードへ復帰する。【構成】 発振回路2の動作を発振検出手段6が検出し、(a)のデータ入力手段3又は、(b)のテストモード信号出力手段5に作用し、テストモード信号をリセットする。
請求項（抜粋）：
テストモードへ移行するためのテストモード信号発生手段と、通常モード時動作する発振回路と、前記発振回路の動作状態を検出する検出手段と、前記検出手段からの信号でテストモードから通常モードへ移行させる手段とを有するテストモード機能をもつ半導体集積回路。
IPC (2件)：
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