特許

J-GLOBAL ID：200903086975452210

ゴム化合物およびカーボンブラックを含む他の材料中のカーボンブラックの濃度と分布を測定する方法およびこの方法を実行する装置

発明者： クリストフ・カールホーフ ,  マルテイン・ヨグウイッヒ ,  クラウス-ユルゲン・ローレンツエン ,  マルコ・ナーミアス
出願人/特許権者： フリードリッヒ・クルップ・アクチエンゲゼルシヤフト・ヘッシユ-クルップ ,  ピレリ・コールデイナメント・プニユマテイチ・ソシエタ・ペル・アチオニ
代理人 (1件)： 江崎 光史 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-189606
公開番号（公開出願番号）：特開平7-167785
出願日： 1994年08月11日
公開日（公表日）： 1995年07月04日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 ゴム化合物中のカーボンブラックの濃度と分布を求めることができるように、TRELIBSの原理に基づく方法と装置を改良する。【構成】 ゴム板1の表面1aをパルスレーザーユニット5から放出されたレーザービーム4の端部領域4aで走査する。測定点4bに集束レーザービームで形成されるプラズマ4cの輻射3を回折格子11をゆうする分光器10に供給してコンピュータ13で評価する。二つのレーザーパルスで生じた二種のスペクトル強度の測定を、異なった一定の時間遅延 tV1と tV2で行う。第一の測定で基準元素(炭素)のスペクトル線の強度IC と他の全ての分析元素のスペクトル線の強度IA.n を求め、これ等の強度から、比IA.n / IC を求め、第二の測定で基準元素のスペクトル線の強度IC'と他の分析元素の少なくとも一つのスペクトル線の強度IA.n'を求め、これ等の強度からその都度付随する強度比を求める。

請求項（抜粋）：

材料表面に集束するパルス化されたレーザービームを用い、このレーザービームが表面に含まれる元素や分子に固有な輻射を伴うプラズマを生成し、表面を端部領域を用いて集束レーザービームで形成される測定点が存在する格子領域に分割し、スペクトル線や分子スペクトル帯の形状で分散している特性輻射を検出器ユニットで判別し、選択された元素や分子の種々の輻射強度からの数値比を参照して計算されると共に記憶され、関連する測定点に付属している濃度値から、少なくとも表面の一部にわたる濃度値曲線を決定し、ゴム化合物およびカーボンブラックを含む他の材料中のカーボンブラックの分布と濃度を求める方法において、スペクトル強度の二つの測定、つまり第一プラズマないしは第一プラズマ群に対する第一測定と、第二プラズマないしは第二プラズマ群に対する第二測定により、二つのレーザーパルスあるいはレーザーパルス群で生成されたプラズマないしはプラズマ群を評価し、特別なレーザーパルスの動作に関連する、結び付いた二つの測定を各作動時間に対して異なった一定の時間遅延(tV1, tV2)でそれぞれ行い、第一の測定で、基準元素としての炭素のスペクトル線強度(IC )と表面部分の少なくともほぼ全ての分析元素のスペクトル線強度(IA.n )を求め、これ等の強度から、基準元素のスペクトル線強度に対する各分析元素のスペクトル線強度の付随する比(IA.n / IC )を求め、第二の測定で、基準元素のスペクトル線強度(IC')と少なくとも一つの他の分析元素のスペクトル線強度(IA.n')を求め、これ等の強度から付随する比を求め、この測定を付随する第一測定よりも短い遅延時間で行い、既知の成分の試料を参照し、第一測定の時間遅延の測定で求めた校正曲線により、第一測定からの強度比の値(IA.n / IC )を使用して、特別な表面領域に少なくともほぼ全ての分析元素の付随する濃度比の値(cA.n / cC )を求め、これ等の比の値から基準元素の濃度の値(cC )を求め、この値から個々の分析元素の濃度(cA.n )の大きさを求め、既知成分の試料を参照し、第二の測定の時間遅延で測定して得られる少なくとも一つの他の校正曲線により、第二の測定からの付随する強度比の値(IA.n'/IC')を使用して、カーボンブラックの濃度(cR )と特別な分析元素(cA.n)を求め、分析元素の濃度の先に計算した大きさを計算に入れて、カーボンブラック濃度の大きさを求める、ことを特徴とする方法。