特許

J-GLOBAL ID：200903087000305069

電子対測定装置および走査形トンネル顕微鏡

発明者： 金 田 源 太
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-380280
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181682
出願日： 2000年12月14日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：

【要約】【課題】 物質中における電子対の挙動を観測することができる電子対測定装置を提供すること。【解決手段】 超伝導体でつくられた探針5は、冷却器4によってその超伝導転移温度TC以下まで冷却される。この冷却により、探針5は超伝導状態となり、探針5内で電子対が生成される。また、このような探針5の冷却時、電圧印加手段8により探針5と試料7間に所定の電圧が印加される。この際、探針5には試料7より負の電位がかけられるので、上述した探針5内で生成された電子対は試料7に連続的に注入される。さらに、図1の装置においては、前記探針5の冷却開始と同時に、光電子分光装置9による探針5の分析が始められ、超伝導探針内における電子対の生成過程を観測することができる。

請求項（抜粋）：

超伝導体でつくられた超伝導探針と、その超伝導探針内で電子対を生成させるためにその超伝導探針を冷却する冷却手段と、試料を前記超伝導探針に対向かつ接近して配置するための手段と、前記試料と超伝導探針間に電圧を印加する電圧印加手段と、前記超伝導探針内または前記試料内における前記電子対の挙動を観測する手段を備えたことを特徴とする電子対測定装置。

IPC (3件)：

G01N 13/12 ,  G01N 23/225 ,  G01N 23/227

FI (4件)：

G01N 13/12 A ,  G01N 13/12 D ,  G01N 23/225 ,  G01N 23/227

Fターム (22件)：

2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001AA07 ,  2G001AA10 ,  2G001BA08 ,  2G001BA14 ,  2G001BA28 ,  2G001CA03 ,  2G001GA01 ,  2G001GA04 ,  2G001GA05 ,  2G001GA06 ,  2G001GA09 ,  2G001GA11 ,  2G001GA17 ,  2G001KA12 ,  2G001NA12 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001PA07 ,  2G001PA14 ,  2G001SA10