スピン偏極走査型トンネル顕微鏡

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：平戸哲夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-179479
公開番号（公開出願番号）：特開2000-009626
出願日： 1998年06月26日
公開日（公表日）： 2000年01月14日
要約：

【要約】【課題】スピン偏極走査型トンネル顕微鏡に関し、試料の各磁区ごとに試料表面の凹凸状態に起因するトンネル電流と磁化状態に起因するトンネル電流とを別々に測定できるようにし、試料表面の凹凸状態と試料の各磁区の磁化状態とを高精度に観測することができるようにする。【解決手段】GaAs探針11で試料8を走査し、各磁区ごとにGaAs探針11に直線偏光、左円偏光及び右円偏光を順に照射し、各偏光を照射した場合のトンネル電流を測定し、凹凸状態に起因するトンネル電流値は、GaAs探針11に直線偏光を照射することにより得、各磁区の磁化状態に起因するトンネル電流値は、GaAs探針11に左右の円偏光を照射した場合のトンネル電流値からGaAs探針11に直線偏光を照射した場合のトンネル電流値を減算して得るようにする。

請求項（抜粋）：

試料にスピン偏極電子を注入するための探針と、前記探針に直線偏光、左円偏光及び右円偏光を切り換えて照射することができる光源と、前記試料と前記探針との間に流れるトンネル電流を測定するトンネル電流測定手段とを備えていることを特徴とするスピン偏極走査型トンネル顕微鏡。

IPC (3件)：

G01N 13/12 , G01B 7/30 , H01J 37/28

FI (3件)：

G01N 37/00 B , G01B 7/30 Z , H01J 37/28 X

Fターム (10件)：

2F063AA43 , 2F063CA09 , 2F063DA01 , 2F063DA04 , 2F063DB05 , 2F063DC08 , 2F063DD02 , 2F063EA16 , 2F063FA07 , 2F063JA04

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