特許

J-GLOBAL ID：200903087041062022

物質の特性測定方法、物質の特性測定装置

発明者： 尾股 定夫
出願人/特許権者： 学校法人 日本大学
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-078999
公開番号（公開出願番号）：特開2002-272743
出願日： 2001年03月19日
公開日（公表日）： 2002年09月24日
要約：

【要約】【課題】 生体を解剖、開腹して被測定物質との間に介在する他の生体組織物質を取り除く等の必要なく、振動伝達特性の応答を利用した生体内部の被測定物質の硬さに対応する特性値を容易に測定することである。【解決手段】 パルス入射手段、パルス受信手段からなるセンサ(12)と、その入射波、反射波の周波数成分分析部(14)と、その入射波、反射波のスペクトル分布を比較して、それぞれの周波数fxにおける入射波の位相と反射波の位相の差である位相差θxを特定する周波数位相差特定部(15)と、その周波数fxと位相差θxを入力して、基準として予め求めておいた基準伝達特性曲線を用いて演算して、前記入力した位相差θxをゼロにするときの周波数の変化dfを求める位相差補償演算部(16)を有し、このdfから物質の硬さを得ることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

被測定物質に入射されたパルス波の周波数成分分析を行なって、各正弦波成分の周波数と、その周波数における正弦波成分と余弦波成分とから求められる位相差のスペクトル分布を求める入射波周波数成分分析工程と、入射されたパルス波が、被測定物質から反射されてくる反射波の周波数成分分析を行なって、各正弦波成分の周波数と、その周波数における正弦波成分と余弦波成分とから求められる位相差のスペクトル分布を求める反射波周波数成分分析工程と、前記入射波のスペクトル分布と前記反射波のスペクトル分布を比較して、それぞれの周波数fxにおける、その入射波の位相と反射波の位相の差である位相差θxを特定する周波数位相差特定工程を有していて、これらのfxとθxの値から物質の硬さに対応する物質の特性値を得るところの物質の特性測定方法。

IPC (3件)：

A61B 8/08 ,  G01N 3/40 ,  G01N 29/12

FI (3件)：

A61B 8/08 ,  G01N 3/40 C ,  G01N 29/12

Fターム (13件)：

2G047AC13 ,  2G047BC04 ,  2G047BC13 ,  2G047BC20 ,  2G047GF06 ,  2G047GG12 ,  2G047GG29 ,  4C301AA02 ,  4C301AA03 ,  4C301DD11 ,  4C301HH54 ,  4C301JB34 ,  4C301JB38